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芯联集成“WAT测试结构及WAT测试方法”专利公布

3 周前

芯联集成电路制造股份有限公司的“WAT测试结构及WAT测试方法”发明专利于2025年3月18日公布，公布号为CN119650549A。该专利通过特定测试结构提升集成电路WAT测试的精度与效率。

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