近日,南京理工大学微电子学院(集成电路学院)教师王酉杨作为第一作者,在功率半导体领域的国际顶级期刊《IEEE Transactions on Power Electronics》上发表了题为“ANN-assisted Switching Loss Prediction for SiC MOSFET Power Module”的研究论文。该研究是与北京昕感科技(集团)有限公司副总经理李道会博士带领的研发团队共同完成的,微电子学院顾文华教授担任论文通讯作者,南京理工大学为论文的第一完成单位。