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北京大学集成电路学院、微米纳米加工技术全国重点实验室、集成电路高精尖创新中心王玮—张驰团队在高功率电子器件热管理领域取得突破性进展
3 小时前
高性能计算芯片功率密度不断上升，芯片级热管理已成为影响电子系统性能和可靠性的关键问题。两相冷却利用相变潜热高效传热，被认为是解决高热流密度电子器件散热问题的重要方向。
